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capability

Los índices de capacidad de proceso

Sintaxis

S = capability(data,specs)

Descripción

S = capability(data,specs) calcula los índices de capacidad para las mediciones dadas las especificaciones. puede ser un vector o una matriz de mediciones.dataspecsdata Si es una matriz, se calculan los índices para las columnas. puede ser un vector de dos elementos del formulario que contiene los límites de especificación inferior y superior, o (si es una matriz) una matriz de dos filas con el mismo número de columnas que.dataspecs[L,U]datadata Si no hay ningún límite inferior, utilice como primer elemento de.-Infspecs Si no hay ningún límite superior, utilícenlo como segundo elemento de.Infspecs

La salida es una estructura con los siguientes campos:S

  • — Media de la muestramu

  • — Desviación estándar de la muestrasigma

  • — Probabilidad estimada de estar dentro de los límitesP

  • — Probabilidad estimada de estar por debajoPlL

  • — Probabilidad estimada de estar por encimaPuU

  • Cp(U-L)/(6*sigma)

  • Cpl(mu-L)./(3.*sigma)

  • Cpu(U-mu)./(3.*sigma)

  • Cpkmin(Cpl,Cpu)

Los índices se calculan bajo la suposición de que los valores de datos son muestras independientes de una población normal con media constante y varianza.

Los índices dividen un "ancho de especificación" (entre límites de especificación) por un "ancho de proceso" (entre límites de control). Las proporciones más altas indican un proceso con menos mediciones fuera de la especificación.

Ejemplos

contraer todo

Simular una muestra de un proceso con una media de 3 y una desviación estándar de 0,005.

rng default; % for reproducibility data = normrnd(3,0.005,100,1);

Calcule los índices de capacidad si el proceso tiene un límite de especificación superior de 3,01 y un límite de especificación inferior de 2,99.

S = capability(data,[2.99 3.01])
S = struct with fields:
       mu: 3.0006
    sigma: 0.0058
        P: 0.9129
       Pl: 0.0339
       Pu: 0.0532
       Cp: 0.5735
      Cpl: 0.6088
      Cpu: 0.5382
      Cpk: 0.5382

Visualice las especificaciones y los anchos de proceso.

capaplot(data,[2.99 3.01]); grid on

Referencias

[1] Montgomery, D. Introduction to Statistical Quality Control. Hoboken, NJ: John Wiley & Sons, 1991, pp. 369–374.

Consulte también

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Introducido en R2006b